Microscope à effet tunnel

Thèmes :
• Effet tunnel
• Représentation d'atomes
• Représentation des défauts du réseau et des dislocations
• Représentation d’ondes de densité de charge
• Courant tunnel dépendant de l’écart entre la pointe de mesure et l’échantillon
• Régulation PID du courant tunnel

Microscope à effet tunnel facile à utiliser et compact, pour l’éclatement de structures atomiques à la surface de matériaux conducteur d’électricité. Particulièrement adapté à la formation. Système complet avec tête scanner pour balayage en ligne de la surface des échantillons avec la pointe de mesure, avec dessous amortisseur d’oscillations, commande avec interface, un échantillon de graphite et un échantillon d’or.
Systèmes requis : Windows 2000 ou plus récent
Zone d’exploration XYZ : 500x500x200 nm³
Pas minimal XY : 7,6 pm
Pas minimal Z : 3 pm
Courant tunnel : 0,100 …100,000 nA (pas 0,025 nA)
Tension : ±10,000 V (pas 0,005 V)
Taille d’échantillon max : 10 mm Ø
Tension de raccordement : 90 – 240 V, 50/60 Hz
Connexion : USB

Fournitures :
Commande
CD d’installation avec logiciel de commande et de mesure
Tête de scanner avec câble de connexion
Couvercle avec loupe
Plaque d’expérimentation avec amortisseur d’oscillations
Lot d’outils pour la réalisation de la pointe de mesure (pince coupante latérale, pince plate, pincette arrondie et pincette pointue)
Fil de platine et iridium, 0,25 mm Ø, 300 mm
Échantillon de graphite (HOPG) sur support
Échantillon d’or (1,1,1) sur support
Jeu de 4 supports d’échantillons

Poids : Masse 7.5 Kg

Dimensions - cm